| N° de brevet |
Brevet |
| WO2007148532 |
DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE, PROCÉDÉ D'ÉCLAIRAGE, DÉTECTEUR DE LUMIÈRE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE LUMIÈRE |
| WO2007029499 |
ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS, DISPOSITIF DANS LEQUEL UN TEL ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS EST UTILISÉ ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS |
| FR2864695 |
DISPOSITIF D'EMISSION ELECTRONIQUE MULTIFAISCEAUX HYBRIDE A DIVERGENCE CONTROLEE. |
| FR2860339 |
DISPOSITIF DE MESURE DE L'INTENSITE DES FAISCEAUX D'ELECTRONS EMIS PAR UNE MATRICE DE SOURCES INDIVIDUELLES. |
| EP1515358 |
Petit canon à électrons |
| WO2005008681 |
DISPOSITIFS DE GUIDAGE ET DE MANIPULATION DE FAISCEAUX ELECTRONIQUES |
| WO2005006376 |
DISPOSITIF ELECTRONIQUE A OUVERTURE ET GRANDE LENTILLE POUR UN POINT D'EMISSION DE PETITE TAILLE |
| EP1437754 |
Composant éléctronique |
| WO2004053921 |
ECLAIRAGE, AVEC STABILISATION DE COURANT, D'UNE SOURCE DE FAISCEAU D'ELECTRONS A PHOTOCATHODE |
| WO2004027111 |
ELECTRODE, ELEMENT SOLIDE ET DISPOSITIF UTILISANT CEUX–CI |
| EP1403898 |
Source d'électrons, appareil optique à électrons comprenant une source d'électrons et méthode de fonctionnement d'une source d'électrons |
| EP1339100 |
PROCEDE ET APPAREIL D'INSPECTION UTILISANT UN FAISCEAU D'ELECTRONS, ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIF UTILISANT CELUI–CI |
| EP1304717 |
APPAREIL D'ANALYSE A FAISCEAU PLAN |
| EP1296352 |
APPAREIL D'INSPECTION D'UN FAISCEAU DE PARTICULES CHARGE ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL |
| EP1296351 |
APPAREIL D'INSPECTION A FAISCEAU DE PARTICULES CHARGEES ET PROCEDE DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL D'INSPECTION |
| EP1273907 |
PROCEDE ET INSTRUMENT D'INSPECTION DE TRANCHES, ET APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE |
| EP1271606 |
APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL |
| EP1271605 |
APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE ET PROCEDE DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF A SEMI–CONDUCTEUR COMPRENANT LEDIT APPAREIL |
| EP1261016 |
DISPOSITIF A FAISCEAU D'ELECTRONS ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIFS A SEMI–CONDUCTEUR UTILISANT LEDIT DISPOSITIF A FAISCEAU D'ELECTRONS |
| WO0249065 |
DISPOSITIF A FAISCEAU D'ELECTRONS ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIFS A SEMI–CONDUCTEUR UTILISANT LEDIT DISPOSITIF A FAISCEAU D'ELECTRONS |
| WO0245153 |
PROCEDE ET APPAREIL D'INSPECTION UTILISANT UN FAISCEAU D'ELECTRONS, ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIF UTILISANT CELUI–CI |
| WO0240980 |
PROCEDE ET INSTRUMENT D'INSPECTION DE TRANCHES, ET APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE |
| WO0237526 |
APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE ET PROCEDE DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF A SEMI–CONDUCTEUR COMPRENANT LEDIT APPAREIL |
| WO0237527 |
APPAREIL A FAISCEAU ELECTRONIQUE ET PROCEDE DE PRODUCTION DE DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL |
| EP1200978 |
COLONNE DE FAISCEAUX ELECTRONIQUES AVEC ECLAIRAGE A HAUTE OUVERTURE NUMERIQUE DE LA PHOTOCATHODE |
| WO0231839 |
DOPAGE DU TYPE N FILMS A BASE DE DIAMANT NANOCRISTALLIN A L'AZOTE ET ELECTRODES AINSI OBTENUES |
| WO0213227 |
APPAREIL D'ANALYSE A FAISCEAU PLAN |
| WO0213226 |
GENERATEUR DE MOTIFS DE FAISCEAUX ELECTRONIQUES UTILISANT UNE SOURCE DE PHOTOCATHODE EXCITEE PAR UN MODULATEUR SPATIAL DE LUMIERE |
| WO0201597 |
APPAREIL D'INSPECTION A FAISCEAU DE PARTICULES CHARGEES ET PROCEDE DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL D'INSPECTION |
| WO0201596 |
APPAREIL D'INSPECTION D'UN FAISCEAU DE PARTICULES CHARGE ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF UTILISANT CET APPAREIL |
| WO0184130 |
DISPOSITIF D'EMISSION ELECTRONIQUE A NANOTUBE ET SYSTEMES UTILISANT CE DISPOSITIF |
| EP1145272 |
REGLAGE AMELIORE DE L'EMISSION D'UN CHAMP THERMIQUE |
| EP1123558 |
EMETTEUR SCHOTTKY DE LONGUE DUREE |
| WO0115192 |
EMETTEUR SCHOTTKY DE LONGUE DUREE |
| WO0109920 |
COLONNE DE FAISCEAUX ELECTRONIQUES AVEC ECLAIRAGE A HAUTE OUVERTURE NUMERIQUE DE LA PHOTOCATHODE |
| EP1050062 |
ALIGNEMENT DE PRECISION DE L'EXTREMITE D'UNE MICROCOLONNE PAR RAPPORT A L'OUVERTURE MICRONIQUE D'UN EXTRACTEUR |
| FR2792771 |
GENERATEUR IMPULSIONNEL D'ELECTRONS |
| FR2792773 |
SOURCE IONIQUE POUR SPECTROMETRE DE MASSE A TEMPS DE VOL ANALYSANT DES ECHANTILLONS GAZEUX |
| FR2791777 |
DETECTION DE DEFAUTS DANS DES SUBSTRATS STRUCTURES |
| EP1019942 |
MICROSCOPE A FAISCEAU ELECTRONIQUE UTILISANT DES DIAGRAMMES DE FAISCEAUX ELECTRONIQUES |
| EP1018140 |
SOURCE D'ELECTRONS A CATHODES BLINDEES |
| WO0031770 |
ALIGNEMENT DE PRECISION DE L'EXTREMITE D'UNE MICROCOLONNE PAR RAPPORT A L'OUVERTURE MICRONIQUE D'UN EXTRACTEUR |
| WO0024030 |
REGLAGE AMELIORE DE L'EMISSION D'UN CHAMP THERMIQUE |
| WO9854750 |
SOURCE D'ELECTRONS A CATHODES BLINDEES |
| EP0873573 |
SOURCES D'ELECTRONS UTILISANT DES PHOTOCATHODES A AFFINITE VIS–A–VIS DES ELECTRONS NEGATIFS ET COMPORTANT DES ZONES D'EMISSION ULTRAPETITES |
| EP0851460 |
Lentille de canon pour générer un faisceau de particules |
| EP0839383 |
STRUCTURE CONIQUE CONCUE POUR DES MICRO–ELECTRODES DE MICROTHERMOCOUPLES, DES POINTES A EMISSION DE CHAMP ET DES CAPTEURS MICROMAGNETIQUES POUVANT DETECTER UNE FORCE |
| EP0665573 |
Dispositif et procédé de compensation d'émission d'électrons dans un dispositif d'électrons dans un dispositif d'émission de champ. |
| EP0637832 |
Installation à faisceau d'électrons. |
| EP0633593 |
Source de faisceau d'électrons, dispositif d'application d'un faisceau électronique et appareil électronique l'utilisant. |
| FR2702593 |
Structure de guidage de particules chargées en électricité. |
| EP0602982 |
Détecteur d'électrons à focalisation. |
| EP0523699 |
Appareil à faisceau de particules chargées. |
| EP0509771 |
Dispositif d'isolation haute tension. |
| EP0473216 |
Dispositif à faisceau de particules chargées. |
| EP0468521 |
Méthode et appareil pour l'irradiation par électrons de basse énergie. |
| FR2662301 |
ELEMENT EMETTEUR D'ELECTRONS. |
| EP0428527 |
CANON ELECTRONIQUE A PLASMA A SOURCE IONIQUE ELOIGNEE. |
| EP0370196 |
Procédé de mise en oeuvre d'un appareil de mesure à faisceau d'électrons. |
| EP0366851 |
Source à basse tension de faisceaux étroits d'électrons/ions. |
| WO9001250 |
REMOTE ION SOURCE PLASMA ELECTRON GUN |
| EP0348611 |
Photocathode à fibre optique. |
| FR2609840 |
CANON A ELECTRONS A PLASMA IONIQUE |
| FR2607623 |
SOURCE D'ELECTRONS POLARISES DE SPIN, UTILISANT UNE CATHODE EMISSIVE A MICROPOINTES, APPLICATION EN PHYSIQUE DES INTERACTIONS ELECTRONS–MATIERE OU ELECTRONS–PARTICULES, PHYSIQUE DES PLASMAS, MICROSCOPIE ELECTRONIQUE |
| EP0261198 |
CANON A ELECTRONS POURVU D'UNE ANODE A PLASMA. |
| EP0257394 |
Appareil à faisceau électronique. |
| EP0249254 |
Dispositif semi–conducteur pour générer un courant électronique. |
| EP0215532 |
Masque émetteur d'électrons pour un projecteur d'image à faisceau électronique, sa fabrication et fabrication d'un dispositif à l'état solide faisant usage d'un tel masque. |
| EP0189498 |
Microscope électronique Auger à balayage à émission de champ |
| EP0151588 |
SYSTEME D'EMISSION ELECTRONIQUE. |
| EP0116083 |
CANON ELECTRONIQUE A EMISSION DE CHAMP A BASSE TENSION. |
| EP0107004 |
Masque utilisant l'effet tunnel pour la litographie électronique, procédé pour sa fabrication et son utilisation |
| FR2527383 |
CANON A ELECTRONS AVEC CATHODE A EMISSION DE CHAMP ET LENTILLE MAGNETIQUE |
| FR2517470 |
GENERATEUR D'ELECTRONS A HAUTE DENSITE DE COURANT STIMULE PAR LASER ET SON PROCEDE DE FABRICATION |
| FR2472264 |
DISPOSITIF POUR PRODUIRE DES FAISCEAUX D'ELECTRONS DESTINES A DURCIR UNE COUCHE DE MATIERE |
| EP0011414 |
Procédé et appareil pour l'irradiation de surface par faisceau d'electrons. |
| FR2417179 |
CANON ELECTRONIQUE A EMISSION DE CHAMP |
| FR2415879 |
DISPOSITIF SEMI–CONDUCTEUR ET SON PROCEDE DE FABRICATION AINSI QUE DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT ET DISPOSITIF DE REPRODUCTION MUNIS D'UN TEL DISPOSITIF SEMI–CONDUCTEUR |
