N° de brevet Brevet
WO2008001431 SUBSTRAT DE FORMATION DE LARGE PELLICULE
WO2007132698 boîtier à réticule
FR2899697 MASQUE DE PHOTOLITOGRAPHIE EN EXTREME ULTRA–VIOLET, AVEC COUCHE D'ARRET RESONANTE
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WO2007094197 DISPOSITIF DE PROTECTION, MASQUE ET DISPOSITIF D'EXPOSITION
WO2007072890 SUBSTRAT DE VERRE POUR EBAUCHE DE MASQUE ET PROCEDE DE POLISSAGE POUR PRODUIRE CE SUBSTRAT
WO2007068617 PROCEDE DE FABRICATION DE MASQUE LITHOGRAPHIQUE EN REFLEXION ET MASQUE ISSU DU PROCEDE
FR2894690 MASQUE DE LITHOGRAPHIE EN REFLEXION ET PROCEDE DE FABRICATION DU MASQUE
FR2894691 PROCEDE DE FABRICATION DE MASQUE LITHOGRAPHIQUE EN REFLEXION ET MASQUE ISSU DU PROCEDE
FR2894346 MASQUE DE PHOTOLITHOGRAPHIE EN EXTREME ULTRA–VIOLET, A CAVITES ABSORBANTES
FR2893018 PROCEDE DE FORMATION DE SUPPORTS PRESENTANT DES MOTIFS, TELS QUE DES MASQUES DE LITHOGRAPHIE.
EP1753609 MASQUE POUR LITHOGRAPHIE AUX ULTRAVIOLETS EXTREMES (EUVL) A DIFFUSION DE LA LUMIERE
WO2006134855 LARGE SUBSTRAT DE VERRE POUR PHOTOMASQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CELUI–CI, SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR, ET PROCÉDÉ D'EXPOSITION DE VERRE–MÈRE
FR2884965 STRUCTURE DE BLANC DE MASQUE AJUSTABLE POUR MASQUE EUV A DECALAGE DE PHASE
EP1715329 Appareil et procédé d'inspection de particules, appareil d'exposition et procédé de fabrication
EP1690883 PELLICULE ET NOUVEAU POLYMERE FLUORE
WO2006080060 ETUI POUR LOGER UNE PELLICULE DE GRANDE TAILLE
WO2006059388 PROCEDE DE LOGEMENT D'UNE GRANDE PELLICULE
FR2876808 STRUCTURE DE MASQUE POUR LITHOGRAPHIE
WO2006035894 ÉLÉMENT SUPPORT DE CARTE REVÊTUE DE FILM MINCE, CONTENEUR DE STOCKAGE DE CARTE REVÊTUE DE FILM MINCE, CORPS DE STOCKAGE D'ÉBAUCHE DE MASQUE, CORPS DE STOCKAGE DE MASQUE DE TRANSFERT ET PROCÉDÉ DE TRANSPORT DE CARTE REVÊTUE DE FILM MINCE
EP1643542 MASQUE DE TEST DE FOCALISATION, PROCEDE DE MESURE DE FOCALISATION ET DISPOSITIF D'EXPOSITION
EP1642171 MASQUE D'EXPOSITION, SON PROCEDE DE CONCEPTION ET DE FABRICATION, PROCEDE D'EXPOSITION ET APPAREIL ASSOCIE, PROCEDE DE FORMATION DE MOTIF, ET PROCEDE DE FABRICATION DE DISPOSITIF
WO2006028227 ADHÉSIF
WO2006028228 BOÎTE DE RANGEMENT DE SUBSTRAT DE VERRE, DISPOSITIF D'ÉCHANGE DE SUBSTRAT DE VERRE, DISPOSITIF DE GESTION DE SUBSTRAT DE VERRE, PROCÉDÉ DE DISTRIBUTION DE SUBSTRAT DE VERRE, ÉLÉMENT D'ÉTANCHÉITÉ, ET STRUCTURE D'ÉTANCHÉITÉ UT
EP1624480 PROCEDE D'EXPOSITION, MASQUE, PROCEDE DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF A SEMI–CONDUCTEUR ET DISPOSITIF A SEMI–CONDUCTEUR
WO2005115743 MASQUE POUR LITHOGRAPHIE AUX ULTRAVIOLETS EXTREMES (EUVL) A DIFFUSION DE LA LUMIERE
EP1602007 PROCEDE DE MODELISATION D'UNE PHOTORESINE SUR UNE TRANCHE A L'AIDE D'UN MASQUE REFLECHISSANT AVEC UN REVETEMENT ANTIREFLECHISSANT MULTICOUCHE
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EP1586008 MASQUES PHOTOGRAPHIQUES A DEMI–TEINTE BINAIRE, DISPOSITIFS TRIDIMENSIONNELS MICROSCOPIQUES ET PROCEDES DE FABRICATION ASSOCIES
EP1566691 Méthode de correction des structures d'un masque, masque d'exposition, et procédé de fabrication d'un masque
EP1564793 DISPOSITIF D'EXPOSITION, PROCEDE D'EXPOSITION ET PROCEDE DE FABRICATION DE DISPOSITIFS A SEMI–CONDUCTEUR
FR2865813 MASQUE A MOTIFS PROTEGES, POUR LA LITHOGRAPHIE PAR REFLEXION DANS LE DOMAINE DE L'EXTREME UV ET DES RAYONS X MOUS
EP1548806 PROCEDE D'ALIGNEMENT, SUBSTRAT D'ALIGNEMENT, PROCEDE DE PRODUCTION D'UN SUBSTRAT D'ALIGNEMENT, PROCEDE D'EXPOSITION, SYSTEME D'EXPOSITION ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN MASQUE
FR2863772 PROCEDE DE REPARATION D'ERREURS DE MOTIFS REALISES DANS DES COUCHES MINCES
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FR2863065 PROCEDE DE REALISATION D'UN DESSIN SUR PLAQUE DE VERRE GRAINEE EN VUE D INSOLER UNE PLAQUE OFFSET
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EP1516863 Vitrocéramiques transparentes à expansion thermique ultra–faible
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EP1500718 Procédé pour la préparation d'un film de diamant
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WO2005004211 MASQUE DE TEST DE FOCALISATION, PROCEDE DE MESURE DE FOCALISATION ET DISPOSITIF D'EXPOSITION
WO2005001569 MASQUE D'EXPOSITION, SON PROCEDE DE CONCEPTION ET DE FABRICATION, PROCEDE D'EXPOSITION ET APPAREIL ASSOCIE, PROCEDE DE FORMATION DE MOTIF, ET PROCEDE DE FABRICATION DE DISPOSITIF
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EP1471386 Procédé lithographique et appareil produit en utilisant ce procédé
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WO2004044968 DISPOSITIF D'EXPOSITION, PROCEDE D'EXPOSITION ET PROCEDE DE FABRICATION DE DISPOSITIFS A SEMI–CONDUCTEUR
EP1421444 CIRCUIT INTEGRE DOTE D'UN MASQUE REFLECHISSANT
EP1422562 RETICULE ET PROCEDE DE MESURE DE CARACTERISTIQUES OPTIQUES
EP1414722 PROTECTION ET TRANSPORT DE RETICULE
EP1415197 CORRECTION DE PROXIMITE OPTIQUE DESTINEE A DES MASQUES PHOTOLITHOGRAPHIQUES A DEPHASAGE
WO2004031855 ENSEMBLE MEMBRANE ET RETICULE–PELLICULE A ESPACE PELLICULE– RETICULE EPURE
WO2004032204 PROCEDE DE PRODUCTION DE CIRCUIT INTEGRE AU MOYEN D'UN PHOTOMASQUE A DOUBLE REVETEMENT ANTIREFLECTEUR
EP1401923 COMPOSITIONS DE LIQUIDE POLYMERE CONVENANT POUR DES UTILISATIONS D'ULTRAVIOLET ET D'ULTRAVIOLET EXTREME
EP1403663 ELEMENT OPTIQUE, SON PROCEDE DE PRODUCTION ET ALIGNEUR DE PROJECTION
EP1399781 REPARATION DE DEFAUTS D'AMPLITUDE DANS DES REVETEMENTS MULTICOUCHE
WO2004023534 PROCEDE D'ALIGNEMENT, SUBSTRAT D'ALIGNEMENT, PROCEDE DE PRODUCTION D'UN SUBSTRAT D'ALIGNEMENT, PROCEDE D'EXPOSITION, SYSTEME D'EXPOSITION ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN MASQUE
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