| N° de brevet |
Brevet |
| EP1891453 |
GESTIONNAIRE PRÉSENTANT UN DISPOSITIF D'ACCÉLÉRATION, DESTINÉ À TESTER DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES |
| WO2008009105 |
MATRICE DE TRANSISTORS À COUCHES MINCES POSSÉDANT DES CIRCUITS DE TEST |
| WO2008003376 |
DISPOSITIF DESTINÉ À DÉTERMINER LES PARAMÈTRES CARACTÉRISTIQUES DE FONCTIONNEMENT D'UN AMPLIFICATEUR DE PUISSANCE HAUTE FRÉQUENCE |
| WO2008003385 |
DISPOSITIF DESTINÉ À DÉTERMINER LES PARAMÈTRES CARACTÉRISTIQUES DE FONCTIONNEMENT D'UN AMPLIFICATEUR DE PUISSANCE HAUTE FRÉQUENCE |
| WO2008004141 |
CIRCUIT DE DÉTECTION DU RAPPORT CYCLIQUE DE SIGNAUX D'HORLOGE |
| EP1876454 |
Procédé destiné aux tests électriques de puces |
| EP1869482 |
DERIVES DE PYRIMIDINE |
| EP1866658 |
CIRCUIT INTEGRE RF PREPARE POUR L ESSAI |
| EP1868003 |
Trieuse de vieillissement accéléré et procédé de tri l'utilisant |
| WO2007140627 |
PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER LA RÉPONSE ÉLECTRIQUE LINÉAIRE D'UN TRANSFORMATEUR, GÉNÉRATEUR OU MOTEUR ÉLECTRIQUE |
| WO2007141088 |
SYSTÈME DE CAPTEUR, EN PARTICULIER NATTE DE CAPTEUR POUR UN VÉHICULE AUTOMOBILE |
| WO2007141896 |
Circuit intégré à semiconducteur |
| EP1864121 |
APPAREIL DE METROLOGIE DE PLAQUETTE SEMI–CONDUCTRICE ET METHODES ASSOCIEES |
| EP1861759 |
APPAREIL ET PROCEDE DESTINES A REGULER LA TEMPERATURE DANS UN SYSTEME DE MANDRIN |
| WO2007132880 |
PROCÉDÉ DE BINARISATION D'IMAGE, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'IMAGE ET PROGRAMME INFORMATIQUE |
| WO2007132015 |
PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR MESURER LE RAPPORT CYCLIQUE OU LE RAPPORT CYCLIQUE RELATIF D'UN SIGNAL NUMÉRIQUE |
| WO2007123055 |
APPAREIL DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST, CIRCUIT DE FILTRAGE DE GIGUE ET PROCÉDÉ DE FILTRAGE DE GIGUE |
| WO2007123054 |
DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE, PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE, UNITÉ DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST |
| EP1850419 |
FEUILLE CONDUCTRICE COMPOSITE, PROCEDE POUR LA PRODUIRE, CONNECTEUR CONDUCTEUR ANISOTROPE, ADAPTATEUR ET DISPOSITIF D' INSPECTION ELECTRIQUE DE CIRCUIT D' APPAREIL |
| WO2007119030 |
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CARACTÉRISATION DE LA SENSIBILITÉ AUX INTERACTIONS ÉNERGÉTIQUES DANS UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE |
| WO2007119300 |
SYSTÈME DE TEST DE DISPOSITIF RECONFIGURABLE, ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ, ET DISPOSITIF RECONFIGURABLE UTILISÉ |
| FR2899969 |
DISPOSITIF DE FLEXION QUATRE POINTS |
| WO2007116009 |
PROCÉDÉ DE TEST ET DISPOSITIF POUR TESTER UNE PLURALITÉ D'INTERPOSEURS RFID |
| WO2007113769 |
CIRCUIT INTÉGRÉ COMPRENANT UNE BATTERIE DE CONDENSATEURS ET PROCÉDÉ DE TEST D'UNE BATTERIE DE CONDENSATEURS |
| WO2007108492 |
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ISOLEMENT D'UNE FONCTION DE DENSITÉ DE PROBABILITÉ, DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ISOLEMENT DE BRUIT, DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ESSAI, DISPOSITIF DE CALCUL |
| WO2007108493 |
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ISOLEMENT DE FONCTION DE DENSITÉ DE PROBABILITÉ, DISPOSITIF D'ESSAI, DISPOSITIF DE MESURE DE RAPPORT D'ERREUR DE BITS, DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE, ET PROGRAMME |
| EP1837669 |
SYSTEME DE TRANSMISSION DE SIGNAUX, CARTE DE CIRCUIT IMPRIME D`EMISSION DE SIGNAUX ET DE RECEPTION DE SIGNAUX, PROCEDE D`EMISSION DE SIGNAUX ET DE RECEPTION DE SIGNAUX |
| EP1834168 |
METHODE ET PROCEDE PERMETTANT D'EXTRAIRE INDEPENDAMMENT LA CONCENTRATION DE PORTEURS ET LA PROFONDEUR DE JONCTION D'UN SUBSTRAT SEMI–CONDUCTEUR |
| WO2007101345 |
PROCÉDÉ ET APPAREIL D'INTERROGATION DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE |
| EP1832949 |
Procédé et appareil pour la génération de signaux de perturbation |
| WO2007098807 |
CALIBRAGE DE SIGNAUX PAR AJUSTEMENT TEMPOREL |
| EP1829641 |
Appareil pour, et procédé de positionnement d'une unité d'interface d'un système de test automatique |
| EP1830196 |
Activation du mode test par comparaison de phase |
| EP1830194 |
Dispositif de test pour composants semiconducteurs |
| WO2007097234 |
PROCEDE DE FABRICATION D'UN MONTAGE DE CONNEXION ET MONTAGE DE CONNEXION |
| EP1825282 |
MODULE DE SIGNALISATION A REFLEXIONS REDUITES |
| EP1826579 |
Système de conception en vue de test de captures multiples destiné à détecter ou à localiser des erreurs de domaine d'horloge de croisement pendant un test automatique ou un test de balayage |
| EP1821171 |
APPAREIL DE CONTROLE ET CIRCUIT A SOURCE ELECTRIQUE |
| EP1820105 |
INTERFACE DE TRANSFERT DE DONNEES COMPRIMEES ENTRE UN SYSTEME HOTE ET UN SYSTEME DE TRAITEMENT DE DONNEES PARALLELE |
| WO2007090528 |
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR CONTRÔLER DES CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES |
| WO2007090772 |
DISPOSITIF DE COMMUTATION ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE |
| EP1817594 |
CONTROLE DE PARAMETRES DE FONCTIONNEMENT PHYSIQUES D'UN CIRCUIT INTEGRE |
| WO2007088176 |
SOURCE LUMINEUSE ÉTENDUE ET ÉLECTRIQUEMENT MODULABLE, DISPOSITIF DE MESURE POUR CARACTÉRISER UN SEMI–CONDUCTEUR COMPORTANT UNE TELLE SOURCE |
| WO2007088427 |
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION DES VARIATIONS DE PARAMÈTRES DE TRANSISTORS |
| WO2007088672 |
CIRCUIT OSCILLANT EN ANNEAU, CIRCUIT DE MESURE DU TEMPS DIFFÉRÉ, CIRCUIT GÉNÉRATEUR DE SIGNAL D'HORLOGE, DÉTECTEUR D'IMAGE, CIRCUIT GÉNÉRATEUR D'IMPULSIONS, CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI–CONDUCTEURS ET MÉTHODE D'ESSAI |
| EP1814056 |
Ports de connecteur anti–fraude |
| EP1802987 |
DISPOSITIF POUR LA THERMOREGULATION ET LE TEST DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES ET/OU ELECTROMECANIQUES |
| WO2007071519 |
PROCESSUS DE MESURE PERMETTANT DE DETERMINER LES PARAMETRES CARACTERISTIQUES DE LIGNES EN MESURANT LES PARAMETRES D'AFFAIBLISSEMENT |
| EP1801602 |
Dispositif et procédé de positionnement de micropuces électroniques à tester électriquement |
| WO2007063029 |
SYSTEME DE MESURE ET D'ISOLEMENT DE DEFAILLANCES PRESENTANT UNE PRECISION A L'ECHELLE DU NANOMETRE |
| WO2007064824 |
MARQUAGE DE MARCHANDISES AVEC DES TRANSPONDEURS PROGRAMMABLES |
| WO2007065060 |
PROTECTION DE DONNEES REPOSANT SUR LES PROPRIETES D'UN CIRCUIT IMPRIME ELECTRONIQUE |
| WO2007057343 |
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR TESTER LA FIABILITÉ DE LECTURE D'ÉTIQUETTES INTELLIGENTES |
| EP1787472 |
APPAREIL DE VERIFICATION D'UNE TENSION DE SORTIE DE BLOC A FAIBLE BRUIT |
| WO2007053538 |
PROCEDES AMELIORANT LA VISIBILITE DES DEFAUTS LORS D'ESSAIS DE VIDEO |
| EP1782084 |
DISPOSITIF DE COMMANDE D'UN EQUIPEMENT APTE A DONNER UNE INFORMATION SUR UN ETAT DE FONCTIONNEMENT DE L'EQUIPEMENT |
| WO2007049490 |
CIRCUIT EN BOUCLE ASSERVIE DE TEMPORISATION, GENERATEUR DE SYNCHRONISATION, DISPOSITIF D'ESSAI DE SEMI–CONDUCTEURS, CIRCUIT INTEGRE A SEMI–CONDUCTEURS, ET PROCEDE D'ETALONNAGE DE QUANTITE DE TEMPORISATION |
| EP1779471 |
INTERFACE DE DISPOSITIF DE TEST VERTICALE MECANIQUEMENT RECONFIGURABLE DESTINEE A TESTER UN CIRCUIT IMPRIME |
| EP1777532 |
Méthode et dispositif de commande pour tester une antenne |
| WO2007042159 |
SYSTEME DE COMMANDE POUR MACHINE ELECTRIQUE |
| EP1774583 |
PROCEDE ET APPAREIL DE PRODUCTION DE PLAGES DE CONTACT COPLANAIRES SUR UN SUBSTRAT |
| WO2007040799 |
BATI D'ESSAI POUR LE RECUEIL DE MATIERES PARTICULAIRES |
| EP1771741 |
DISPOSITIF ET PROCEDE DE TEST D'AU MOINS UN JOINT CONDUCTEUR FORMANT UNE LIAISON ELECTRIQUE D'UN COMPOSANT ELECTRIQUE AVEC UN CIRCUIT IMPRIME |
| WO2007038199 |
SYSTEME D'ALIGNEMENT DE VISION TROIS POINTS A UNE SEULE CAMERA POUR UN MANIPULATEUR DE DISPOSITIF |
| EP1769257 |
AUGMENTATION DE LA PRODUCTIVITE SUR UN TEST DE PLAQUETTE AU MOYEN D'UNE ANALYSE DE DONNEES DE RETESTAGE DE SONDE |
| WO2007029513 |
GÉNÉRATEUR DE SYNCHRONISATION, DISPOSITIF D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE SYNCHRONISATION |
| WO2007026563 |
CARTE D'ÉTALONNAGE POUR APPAREIL DE TEST DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE |
| EP1759219 |
PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA REDUCTION DE LA GIGUE PAR REGLAGE DE DECALAGE VERTICAL |
| EP1756600 |
DISPOSITIF DE TEST DE MESURE DE RESEAU LOCAL |
| FR2889889 |
CONNECTEUR ELECTRIQUE INTERCALAIRE DU TYPE A AIGUILLES |
| WO2007016599 |
PROCEDE ET APPAREIL DESTINES AU NETTOYAGE D'UNE CARTE SONDE |
| WO2007012456 |
ENSEMBLE DE MESURE DESTINE A MESURER LA VALEUR D'INDUCTANCE ET DE RESISTANCE D'UN CAPTEUR INDUCTIF |
| EP1746277 |
Dispositif et système pour tester un injecteur piezoélectrique |
| WO2007007869 |
CONNECTEUR DE MESURE DE RÉSISTANCE ÉLECTRIQUE, ET DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RÉSISTANCE ÉLECTRIQUE DE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ |
| WO2007005042 |
COLLIER DE MISE A LA TERRE A COMPOSANT ESD |
| EP1742073 |
DISPOSITIF DE CONNEXION ELECTRIQUE |
| EP1742365 |
APPAREIL DE TEST DE CIRCUIT, PROCEDE DE TEST DE CIRCUIT, ET PROCEDE DE REPARTITION DE SIGNAUX POUR CEUX–CI |
| EP1738188 |
AUTOTEST INTEGRE (BIST) A DISTANCE ET CALCUL DE REDONDANCE |
| WO2006136497 |
PROCEDE D'IDENTIFICATION D'ERREURS DANS DES COMPOSANTS D'UN CIRCUIT DE TRAITEMENT DE SIGNAUX, NOTAMMENT POUR UN TRANSDUCTEUR DE MESURE |
| EP1736787 |
DISPOSITIF DE SONDE POUVANT ÊTRE UTILISÉ DANS PLUSIEURS TYPES DE TESTEURS |
