| N° de brevet |
Brevet |
| EP1892727 |
Appareil de mesure |
| EP1892499 |
Microscope de force atomique pour générer un point de faisceau d'incident minime |
| WO2008006229 |
MICROSCOPE À SONDE À BALAYAGE ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT |
| EP1877753 |
PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA DETERMINATION DE PROPRIETES DE MATERIAU |
| WO2008003796 |
PROCÉDÉ D'UTILISATION D'UN MICROSCOPE À FORCES ATOMIQUES |
| FR2901601 |
MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE ASSERVI |
| WO2007129587 |
DISPOSITIF ET PROCEDE D'ORIENTATION DE MOLECULE |
| WO2007127817 |
PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT DE RÉDUIRE LES FORCES INTERACTIVES LATÉRALES PENDANT L'UTILISATION D'UN INSTRUMENT À BASE DE SONDE |
| EP1845361 |
PROCÉDÉ DE MESURE DE POSITION SUPERFICIELLE ET DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION SUPERFICIELLE |
| WO2007109777 |
TOMOGRAPHIE DE RIGIDITE PAR MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE |
| WO2007104432 |
PROCÉDÉ POUR DÉTECTER UNE DENSITÉ DE DOPAGE DANS UN ÉCHANTILLON DE SEMI–CONDUCTEUR |
| WO2007104452 |
Console en Porte–à–faux d'un microscope à sonde à balayage |
| EP1830171 |
PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS |
| EP1826552 |
VIBREUR METALLIQUE ET SON PROCEDE DE FABRICATION |
| WO2007094365 |
sonde de mesure, appareil de mesure de surface d'échantillon et procédé de mesure de surface d'échantillon |
| WO2007088018 |
ELEMENT ELASTIQUE MINIATURISE ET PROCEDE POUR SA FABRICATION |
| WO2007077842 |
NANOSONDE ET SON PROCEDE DE FABRICATION |
| EP1804050 |
Réseau de cantilever, procédé de fabrication du réseau, et microscope de sonde de lecture optique, dispositif coulissant de guide et mécanisme de rotation, capteur, interféromètre laser à homodyne, et interféromètre doppler laser comportant une fonction dýexcitation lumineuse de spécimen, utilisant le réseau, et le cantilever |
| WO2007072621 |
MICROSCOPE À SONDE À BALAYAGE |
| WO2007072706 |
MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE |
| FR2894671 |
OUTIL POUR LA DETERMINATION DE FORME DE POINTE DE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE |
| WO2007065802 |
NANOTUBES DE CARBONE EN Y UTILISES EN TANT QUE SONDES AFM POUR ANALYSER DES SUBSTRATS A TOPOGRAPHIE ORIENTEE |
| WO2007059833 |
MICROSCOPE, NOTAMMENT MICROSCOPE ELECTRONIQUE A SONDE DE BALAYAGE, COMPORTANT UNE LOGIQUE PROGRAMMABLE |
| WO2007061286 |
DISPOSITIF OPTIQUE COMPRENANT UN ELEMENT EN PORTE–A–FAUX ET SON PROCEDE DE FABRICATION ET D'UTILISATION |
| EP1780173 |
Vibrateur mécanique de l'ordre du nanomètre, procédé de fabrication associé, et dispositif de mesure utilisant ledit vibrateur |
| EP1780529 |
DISPOSITIF DE MESURE DES MOLÉCULES ET PROCÉDÉ DE MESURE DES MOLÉCULES |
| EP1775258 |
Oscillateur mécanique nanométrique, son procédé de fabrication et appareil de mesure l'utilisant |
| WO2007040283 |
SONDE ET LEVIER |
| WO2007036591 |
PROCEDE D'UTILISATION D'UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE ET MICROSCOPE ASSOCIE |
| EP1764708 |
BASE DE DONNÉES DE SENS |
| WO2007029499 |
ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS, DISPOSITIF DANS LEQUEL UN TEL ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS EST UTILISÉ ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT D'AIGUISAGE DES EXTRÉMITÉS |
| EP1762838 |
AGENCEMENT DE SUPPORT D ÉCHANTILLON DESTINÉ À UN MICROSCOPE SONDE À BALAYAGE |
| EP1756595 |
PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DES PROPRIETES ELECTRIQUES EN MODE DE RESONANCE DE TORSION |
| EP1757919 |
PROCÉDÉ DE FABRICATION D"UNE TÊTE DE SONDE |
| WO2007019913 |
DISPOSITIF POUR LA STIMULATION DES OSCILLATIONS D'UNE POUTRE ELASTIQUE FIXEE D'UN COTE DANS UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE A BALAYAGE |
| EP1746622 |
PROCEDE D'ELABORATION DE MATERIAU CARBONE SAILLANT ET MATERIAU CARBONE SAILLANT |
| EP1742034 |
ÉLÉMENT ENFICHABLE À POINT DE FIXATION UNIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DUDIT ELEMENT |
| FR2887630 |
MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE A HARMONIQUE SUPERIEUR |
| WO2006132075 |
AGENCEMENT DE SUPPORT D'ÉCHANTILLON DESTINÉ À UN MICROSCOPE SONDE À BALAYAGE |
| EP1731895 |
Microstructure, porte–à–faux, microscope de sonde à balayage et un procédé de mesure de la quantité de déformation pour la microstructure |
| EP1732084 |
Procédé de détermination du matériel interface et information métrologique d'un modèle utilisant la microscopie de la force atomique |
| WO2006129561 |
MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE ET DISPOSITIF D'EXCITATION DE TIGE EN PORTE–A–FAUX |
| WO2006125788 |
INJECTEUR LOCAL D'ELECTRONS POLARISES DE SPIN A POINTE EN SEMI–CONDUCTEUR SOUS EXCITATION LUMINEUSE |
| WO2006123239 |
CAPTEUR DE DEPLACEMENT, SON UTILISATION ET SON PROCEDE DE PRODUCTION |
| WO2006120012 |
MÉTHODE DE DÉTERMINATION DE L'ÉTAT D'ACTIVATION D'UNE PROTÉINE |
| WO2006106818 |
SUPPORT EN CONSOLE POUR MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE ET MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE EQUIPE DE CELUI–CI |
| WO2006106949 |
MICROSCOPE À SONDE DE BALAYAGE, PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME SUPERFICIELLE D'ÉCHANTILLON ET DISPOSITIF DE SONDAGE |
| EP1705475 |
Sonde à guide d'onde optique et son procédé de fabrication. |
| WO2006098123 |
MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE ET PROCEDE DE MESURE ASSOCIE |
| WO2006090593 |
MECANISME DE DETECTION DE DEPLACEMENT POUR MICROSCOPE EXPLORATEUR A BALAYAGE ELECTRONIQUE ET MICROSCOPE EXPLORATEUR A BALAYAGE ELECTRONIQUE |
| WO2006080257 |
DISPOSITIF DE COMMANDE DE CANTILEVER |
| WO2006073068 |
PROCÉDÉ DE MESURE DE POSITION SUPERFICIELLE ET DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION SUPERFICIELLE |
| WO2006062048 |
VIBREUR METALLIQUE ET SON PROCEDE DE FABRICATION |
| EP1669734 |
MICROSCOPE A SONDE DE TYPE BALAYAGE ET PROCEDE DE COMMANDE DE DEPLACEMENT DU PRELEVEMENT |
| EP1666867 |
SONDE A NANOTUBE ET PROCEDE POUR LA PRODUIRE |
| WO2006049120 |
PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D'ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS |
| EP1653213 |
MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE |
| EP1653476 |
Cantilever |
| EP1640996 |
Sonde de balayage en mode digital de force pulsée et en temps réel. |
| WO2006028135 |
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ SERVANT À MESURER UNE MOLÉCULE EN UTILISANT UNE MATIÈRE SUBSTRAT À BASE DE GEL |
| WO2006025447 |
LEVIER ET SON UTILISATION |
| WO2006011348 |
DISPOSITIF DE MESURE DES MOLÉCULES ET PROCÉDÉ DE MESURE DES MOLÉCULES |
| WO2006004064 |
SYSTÈME MICROSCOPIQUE À SONDE À BALAYAGE |
| WO2005119206 |
PROCEDE ET DISPOSITIF DE CONTROLE DE LA VALEUR DE PHOTO–EXCITATION Q DE VIBRATEUR |
| WO2005119205 |
INSTRUMENT POUR CARACTERISATION ELECTRIQUE A ECHELLE NANOMETRIQUE |
| WO2005119204 |
PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE TÊTE DE SONDE |
| WO2005114230 |
PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DES PROPRIETES ELECTRIQUES EN MODE DE RESONANCE DE TORSION |
| WO2005103647 |
MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE ASSISTÉE PAR FAISCEAU QUANTIQUE ET MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE ASSISTÉ PAR FAISCEAU QUANTIQUE |
| WO2005103648 |
ÉLÉMENT ENFICHABLE À POINT DE FIXATION UNIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DUDIT ELEMENT |
| EP1587113 |
Systèm avec une pointe pour modifier des structures petites. |
| EP1583845 |
METHODE ET APPAREIL POUR UNE ANALYSE MOLECULAIRE DANS DE PETITS VOLUMES D'ECHANTILLON |
| WO2005093775 |
PROCÉDÉ D'ÉLABORATION DE MATÉRIAU CARBONÉ SAILLANT ET MATÉRIAU CARBONÉ SAILLANT |
| EP1582856 |
MICROSCOPE A BALAYAGE PAR SONDE, ET PROCEDE POUR L'OBSERVATION DE MODIFICATIONS DE STRUCTURE CELLULAIRE |
| EP1571435 |
Capteur de cantilever piézoélectrique pour mésurer la pression |
| WO2005076832 |
PROCEDE DE FABRICATION D'EXTREMITES DE NANOTUBE DE CARBONE A PAROI MINCE |
| EP1557843 |
Croissance directe des nanotubes sur un catalyseur |
| WO2005066609 |
CONSOLE DE MICROSCOPE AFM AVEC FONCTION DE TEST DE NANO–INDENTATIONS |
| EP1546696 |
ESSAIS UTILISANT UNE MEMBRANE |
| EP1548438 |
PROCEDE DE DETECTION D'INTERACTION ET DISPOSITIF DE BIOTEST, ET SUBSTRAT D'UTILISATION DE BIOTEST |
| EP1548748 |
Procédé de fabrication de sondes pour microscopie à force atomique |
