N° de brevet Brevet
EP1880467 APPAREIL ET PROCEDE DE POSITIONNEMENT
EP1881317 SYSTEME DE MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
EP1879015 SONDE DOPPLER LASER HÉTÉRODYNE ET SYSTÈME DE MESURE UTILISANT LADITE SONDE
EP1876437 ETAGE DE BALAYAGE POUR MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE
EP1860424 Sonde à balayage à alignement automatique pour microscope à balayage
WO2007129587 DISPOSITIF ET PROCEDE D'ORIENTATION DE MOLECULE
WO2007116254 PROCEDE ET APPAREIL A UTILISER DANS DES MESURES DE POSITION DE NANOMETRE ET DE SOUS–NANOMETRE EN TEMPS REEL
EP1830367 Sonde à nanotube de carbone
EP1830171 PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS
EP1826551 MECANISME DE POSITIONNEMENT ET MICROSCOPE UTILISANT LEDIT MECANISME
WO2007079975 MICROPOINTES ET NANOPOINTES ET LEUR PROCÉDÉ DE FABRICATION
WO2007078979 MODULE SONDE AVEC ACTIONNEUR INTÉGRÉ POUR UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE
EP1806572 DISPOSITIF DE MESURE AVEC UNE ROUE CANTILEVER DE TYPE MARGUERITE
EP1804050 Réseau de cantilever, procédé de fabrication du réseau, et microscope de sonde de lecture optique, dispositif coulissant de guide et mécanisme de rotation, capteur, interféromètre laser à homodyne, et interféromètre doppler laser comportant une fonction dýexcitation lumineuse de spécimen, utilisant le réseau, et le cantilever
WO2007072621 MICROSCOPE À SONDE À BALAYAGE
EP1780173 Vibrateur mécanique de l'ordre du nanomètre, procédé de fabrication associé, et dispositif de mesure utilisant ledit vibrateur
EP1779391 DISPOSITIF A COMMANDE OPTIQUE
EP1775258 Oscillateur mécanique nanométrique, son procédé de fabrication et appareil de mesure l'utilisant
WO2007041556 PROCEDE ET DISPOSITIF DE MICROSCOPIE SONDE A BALAYAGE, FAISANT INTERVENIR UN PAS D'ECHANTILLONNAGE
WO2007029539 DISPOSITIF DE MESURE DE LA PERMEABILITE
EP1762838 AGENCEMENT DE SUPPORT D ÉCHANTILLON DESTINÉ À UN MICROSCOPE SONDE À BALAYAGE
EP1757919 PROCÉDÉ DE FABRICATION D"UNE TÊTE DE SONDE
WO2007020856 PROCÉDÉ ET ÉQUIPEMENT POUR MESURER UN DÉPLACEMENT, ÉQUIPEMENT À ÉTAGE ET MICROSCOPE À SONDE
WO2007018230 SONDE OPTIQUE
EP1752756 MECANISME DE BALAYAGE POUR MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE
WO2006132075 AGENCEMENT DE SUPPORT D'ÉCHANTILLON DESTINÉ À UN MICROSCOPE SONDE À BALAYAGE
WO2006129561 MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE ET DISPOSITIF D'EXCITATION DE TIGE EN PORTE–A–FAUX
FR2886407 INJECTEUR LOCAL D'ELECTRONS POLARISES DE SPIN A POINTE EN SEMI–CONDUCTEUR SOUS EXCITATION LUMINEUSE
WO2006125788 INJECTEUR LOCAL D'ELECTRONS POLARISES DE SPIN A POINTE EN SEMI–CONDUCTEUR SOUS EXCITATION LUMINEUSE
WO2006123239 CAPTEUR DE DEPLACEMENT, SON UTILISATION ET SON PROCEDE DE PRODUCTION
WO2006106949 MICROSCOPE À SONDE DE BALAYAGE, PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME SUPERFICIELLE D'ÉCHANTILLON ET DISPOSITIF DE SONDAGE
WO2006103937 SYSTEME DE MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
WO2006098123 MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE ET PROCEDE DE MESURE ASSOCIE
WO2006090593 MECANISME DE DETECTION DE DEPLACEMENT POUR MICROSCOPE EXPLORATEUR A BALAYAGE ELECTRONIQUE ET MICROSCOPE EXPLORATEUR A BALAYAGE ELECTRONIQUE
WO2006080257 DISPOSITIF DE COMMANDE DE CANTILEVER
EP1681548 Sonde sémiconductrice à pointe résistive et son procédé de fabrication.
EP1669734 MICROSCOPE A SONDE DE TYPE BALAYAGE ET PROCEDE DE COMMANDE DE DEPLACEMENT DU PRELEVEMENT
WO2006049120 PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D'ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS
EP1653213 MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
WO2006029292 PROCEDE ET APPAREIL POUR COMMANDER UN MODE DE RESONANCE DE TORSION D'UN INSTRUMENT A SONDE
EP1632954 Sonde semiconductrice à pointe resistive et son procédé de fabrication
FR2874695 PROCEDE ET SYSTEME D'ANALYSE PROTEOMIQUE
WO2006004064 SYSTÈME MICROSCOPIQUE À SONDE À BALAYAGE
WO2005119204 PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE TÊTE DE SONDE
EP1582856 MICROSCOPE A BALAYAGE PAR SONDE, ET PROCEDE POUR L'OBSERVATION DE MODIFICATIONS DE STRUCTURE CELLULAIRE
EP1577889 TETE D'ENREGISTREMENT/LECTURE DE DONNEES ET DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT/REPRODUCTION DE DONNEES
EP1577660 PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA FREQUENCE DE VIBRATION D'UN ENSEMBLE DE CONSOLES MULTIPLES
EP1571691 Source ponctuelle pour émission de champs électronique avec blindage local
EP1557843 Croissance directe des nanotubes sur un catalyseur
EP1555676 Méthode d'operation d'un micrscope à sonde
EP1546696 ESSAIS UTILISANT UNE MEMBRANE
EP1540270 MICROSCOPE A SONDE A BALAYAGE
EP1530210 Appareil d'enregistrement/reproduction d'informations et milieu d'enregistrement
EP1523652 PROCEDE DE CARACTERISATION DE SURFACES PAR SPECTROMETRIE DE MASSE A HAUTE RESOLUTION LOCALE A L'AIDE D'UNE TECHNIQUE SONDE A BALAYAGE
WO2005031468 PROCEDE DE PRODUCTION DE LUMIERE DANS LE CHAMP PROCHE, MASQUE D'EXPOSITION DANS LE CHAMP PROCHE, ET PROCEDE ET DISPOSITIF POUR L'EXPOSITION DANS LE CHAMP PROCHE
EP1520292 SYNCHRONISATION LOGICIELLE DE PLUSIEURS SONDES A BALAYAGE
EP1513954 DISPOSITIF ET PROCEDE UTILISANT LA DETECTION ET LA CARACTERISATION D'AGENTS PATHOGENES ET DE SUBSTANCES BIOLOGIQUES
WO2005022124 MICROSCOPE A SONDE DE TYPE BALAYAGE ET PROCEDE DE COMMANDE DE DEPLACEMENT DU PRELEVEMENT
EP1512095 TRANSFORMATEUR DIFFERENTIEL VARIABLE LINEAIRE (LVDT) COMPRENANT DES ELEMENTS ELECTRONIQUES NUMERIQUES
EP1509816 LITHOGRAPHIE A COMMANDE ELECTROSTATIQUE
EP1508964 Actionneur à deux axes de grandes dimensions
WO2005010501 MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
EP1502306 PROCEDE DE FABRICATION DE SONDE DE MICROSCOPE A BALAYAGE A STRUCTURE CANAL DE TEF REALISEE AU MOYEN D'UNE FABRICATION A ALIGNEMENT AUTOMATIQUE
EP1482297 MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE ET PROCEDE DE MESURE D'UNE STRUCTURE SUPERFICIELLE DE SPECIMEN
EP1471562 Appareil optique à particules avec une lentille à aimant permanent et une lentille électrostatique
EP1461596 DEPOT PAR ECRITURE DIRECTE NANOLITHOGRAPHIQUE D'ACIDES NUCLEIQUES A PARTIR DE POINTES NANOSCOPIQUES
EP1454335 DISPOSITIF DE MESURE POUR MICROSCOPE ELECTRONIQUE
WO2004074816 MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE ET PROCEDE D'OBSERVATION D'ECHANTILLON ASSOCIE, ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF A SEMI–CONDUCTEUR
WO2004063723 MICROSCOPE A BALAYAGE PAR SONDE, ET PROCEDE POUR L'OBSERVATION DE MODIFICATIONS DE STRUCTURE CELLULAIRE
WO2004061427 PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA FREQUENCE DE VIBRATION D'UN ENSEMBLE DE CONSOLES MULTIPLES
EP1435003 PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA CONSTANTE DIELECTRIQUE ET LECTEUR/ENREGISTREUR DE DONNEES
EP1430486 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER UN ECHANTILLON AVEC UN MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
EP1430485 DISPOSITIF ET PROCEDE POUR MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE
EP1427983 MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE RECONFIGURABLE POUR BALAYAGE D'ECHANTILLON OU DE POINTE A PLAQUES MULTIPLES, A INTERFACAGE TRANSPARENT DE MICROSCOPES OPTIQUES A CHAMP LOINTAIN
EP1411341 ENSEMBLE D'ELEMENTS EN PORTE–A–FAUX, PROCEDE PERMETTANT DE PRODUIRE CET ENSEMBLE, ET MICROSCOPE–SONDE A BALAYAGE, DISPOSITIF COULISSANT ASSOCIE A UN MECANISME DE GUIDAGE ET DE ROTATION, CAPTEUR, INTERFEROMETRE LASER HOMODYNE, ET INTERFEROMETRE LASER DOPPLER AVEC FONCTION D'EXCITATION LUMINEUSE DE L'
WO2004031072 LITHOGRAPHIE A COMMANDE ELECTROSTATIQUE
EP1408327 Sonde pour la mesure locale de la permittivité, qui comprend une ouverture, et procédé de fabrication
WO2004025262 ESSAIS UTILISANT UNE MEMBRANE
EP1398780 Dispositif diélectrique de reproduction, dispositif diélectrique d'enregistrement et dispositif diélectrique d'enregistrement/reproduction
EP1395808 PROCEDE ET SYSTEME DE PLANIFICATION, D'EXECUTION ET D'EVALUATION DU CRIBLAGE HAUT RENDEMENT DE COMPOSITIONS CHIMIQUES A COMPOSANTS MULTIPLES ET DE FORMES SOLIDES DE COMPOSANTS
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