L'invention concerne un dispositif pour trier des puces encapsulées et testée comprenant une unité de test DC (110) réalisant un test DC sur des puces encapsulées, une tête de échec/chargement DC (152) se déplaçant dans une première direction pour charger des puces encapsulées sur l'unité de test et une tête d'insertion (154) se déplaçant dans une deuxième direction perpendiculaire à la première direction pour transférer des puces encapsulées ayant passer le test DC dans une carte d'essai (104), ou l'unité de test DC est déplacée dans la seconde direction, proche de la tête d'échec/ chargement DC lors du transfert des puces encapsulées dans la carte de test pour sortir les puces encapsulées testées. La structure dans laquelle l'unité de test DC bouge vers la tête d'échec/ chargement et de la tête d'insertion rend possible de réduire la distance sur laquelle la tête doit se mouvoir et évite à la tête de défaut/ chargement DC et à la tête d'insertion d'interférer l'une avec l'autre.