PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CLASSIFICATION SOUPLE DE FRAGMENTS DE SILICIUM POLYCRISTALLIN

N° de brevet: WO2007115937 (A2)
Date de publication: 2007-10-18
Inventeur(s): SCHAEFER MARCUS [DE];PECH REINER [DE];
Demandeur(s): WACKER CHEMIE AG [DE];SCHAEFER MARCUS [DE];PECH REINER [DE];
Classification: B07B1/00;B07B13/00;B07B13/04;
N° de demande: WO2007EP52969 20070328 
Numéro(s) de priorité: DE200610016324 20060406 
L'invention concerne un dispositif qui permet une classification souple de silicium polycristallin fragmenté. Ce dispositif est caractérisé par une installation de criblage mécanique et par une installation de tri optoélectronique, les fragments polycristallins étant séparés par l'installation de criblage mécanique en silicium fin et en silicium résiduel, lequel est subdivisé en d'autres fractions par l'installation de tri optoélectronique.

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