Méthode pour aligner automatiquement un échantillon dans un diffractomètre à rayons x
| N° de brevet: |
EP1813935 (A2) |
| Date de publication: |
2007-08-01 |
| Inventeur(s): |
OLSON JEFFREY A [US];JONES RONALD B [US];NIENABER VICKI L [US];MUCHMORE STEVEN W [US];PAN JEFFREY Y [US];GREER JONATHAN [US]; |
| Demandeur(s): |
ABBOTT LAB [US]; |
| Classification: |
G01N23/20;G01N23/207; |
| N° de demande: |
EP20070106443 20000809 |
| Numéro(s) de priorité: |
EP20000957348 20000809;US19990372134 19990811 |
Méthode pour aligner un échantillon comportant un cristal devant être analysé par cristallographie aux rayon X, ledit échantillon étant monté sur un dispositif de positionnement. Un appareil-photo est prévu pour ajuster automatiquement la position de l'échantillon.
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