L'invention concerne un interféromètre comprenant un noyau de guide d'ondes (2) et des dispositifs de chauffage à film mince (4a, 4b) de largeur W1 et W2. Les dispositifs de chauffage à film mince sont montés directement au dessus du noyau du guide d'onde et définissent deux types de zones de recuit différentes. Le recuit, qui est réalisé en alimentant en courant dispositifs de chauffage à film mince (4a, 4b), peut altérer la qualité du revêtement (3) et changer la contrainte appliquée sur le noyau (2) du guide d'onde, rendant ainsi possible le contrôle de dépendance à la polarisation. Ainsi en changeant la largeur des dispositifs de chauffage à film mince (4a, 4b) et/ou la quantité de courant d'alimentation, on peut contrôler de façon permanente l'indice de réfraction effectif (indice de biréfringence) indépendamment du mode de polarisation électrique transversal et du mode de polarisation magnétique transversal. Ceci permet d'ajuster le mode de polarisation électrique transversal à une différence de phase de lambda/2 et le mode de polarisation magnétique transversal à une différence de phase de zéro.