L'invention se rapporte au domaine de la mesure dynamique des caractéristiques relatives à un composant électronique, cette mesure pouvant être realisée pour un mode de fonctionnement continu (CW) ou impulsionnel. Elle a pour objet un procédé de mesure de l'impédance dynamique d'un composant électronique comportant les étapes suivantes : a) une étape de stimulation du composant durant laquelle un signal CW de durée T="T" SUB 0 /SUB +?t est appliqué sur l'entrée du composant, à un instant d'origine t SUB 0 /SUB , b) une étape de mesure (12), au niveau de l'entrée stimulée, des amplitudes et phases du signal incident et du signal réfléchi sur le composant, c) une étape de calcul de l'impédance instantanée du composant, à partir des amplitudes et phases des signaux mesures, d) une etape (13) d'arrêt de la stimulation. Ce procédé est en caractérisé en ce que les étapes sont répétées de manière itérative, la durée T du stimulus et la valeur de l'intervalle de temps ?t étant incrémentées à chaque itération, deux itérations consécutives étant séparées par une étape intermédiaire (16) durant laquelle le composant est mis hors tension de façon à ce que sa température interne redevienne égale à la température ambiante. L'invention s'applique en particulier à la mesure dynamique de l'impédance non linéaire de composants électroniques hyperfréquence tels que des diodes ou des transistors par exemple.