La présente invention concerne un procédé permettant de mesurer sans contact la dimension et/ou la propriété électrique dans un objet électroconducteur devant être mesuré, par induction électromagnétique. Dans ce procédé, un champ magnétique est acheminé de manière à pénétrer à travers l'objet devant être mesuré. Le mode de réalisation décrit dans cette invention comprend les étapes qui consistent à placer une bobine émettrice sur un côté de l'objet devant être mesuré ; à placer une bobine réceptrice sur l'autre côté de l'objet devant être mesuré ; à produire un champ magnétique dans la bobine émettrice ; à produire un changement brutal du champ magnétique généré dans la bobine émettrice d'un niveau à l'autre ; à détecter la tension induite dans la bobine réceptrice ; à déterminer le laps de temps écoulé depuis le moment T2 de la modification du champ magnétique dans la bobine émettrice jusqu'au moment Ta où une tension commence à être induite dans la bobine réceptrice ; à déterminer la magnitude de la tension induite et à calculer l'épaisseur et/ou la conductivité électrique de l'objet devant être mesuré.