La présente invention se rapporte à un dispositif et à un procédé permettant une mise à l'essai fonctionnelle d'un redresseur à semi-conducteurs. Ledit redresseur à semi-conducteurs comporte une pluralité de semi-conducteurs connectés en série, dans laquelle une tension totale W est détectée à travers la totalité du redresseur. Ce redresseur à semi-conducteurs est divisé en une première partie comportant N semi-conducteurs et en une seconde partie comportant M semi-conducteurs. Une première tension (U1) est détectée à travers la première partie du redresseur à semi-conducteurs. Une valeur calculée d'une deuxième tension (U2) à travers la seconde partie du redresseur à semi-conducteurs est calculée en tant que différence entre la tension totale et la première tension. Une comparaison est effectuée entre la première tension et la deuxième tension sous forme d'un quotient d'une première fonction de la seconde tension et d'une seconde fonction de la première tension [F1(U2)/F38U1)], et un signal de commande (R) représentant le nombre des semi-conducteurs entiers dans le redresseur est formé en conséquence.