L'invention concerne un procédé de mesure de température faisant appel à un élément de détection de température à l'échelle du micromètre. Le procédé consiste : à mesurer préalablement une variation de température et de longueur de la colonne continue de gallium que comporte l'élément de détection de température, ce dernier étant constitué d'un nanotube de carbone contenant ladite colonne continue de gallium ; à fixer l'élément de détection de température sur un article dont la température doit être mesurée ; à chauffer cet article dans l'air ; à retirer l'élément de détection de température et à mesurer la longueur de la colonne de gallium, et ; à fournir la longueur mesurée de la colonne de gallium à l'aide d'une expression. Ainsi, il est possible de mesurer précisément des températures dans une plage de températures étendue, à l'échelle du micromètre voire à une échelle inférieure.