L'invention concerne un procédé d'inspection d'un logement de substrat d'une machine de jeu, comprenant une étape (15) de détermination du scellage du logement (39) du substrat à l'aide de moyens (49, 50) de scellage, et une étape (18) de lecture des informations (48) d'identification inhérentes d'un composant électronique (47) du logement (39) du substrat suivant l'étape (15) de détermination de scellage, au moment de l'inspection du logement (39) du substrat afin de vérifier que celui-ci contient bien un substrat (38) de commande sur lequel est monté un composant électronique spécifique (47). L'état scellé du logement du substrat peut être déterminé avec certitude par lecture des informations d'identification inhérentes associées au composant électronique du substrat de commande situé dans le logement, et la lecture illicite des informations d'identification inhérentes par remplacement du composant électronique au cours de l'étape d'inspection peut être empêchée.