PROCEDES ET SYSTEMES DESTINES A DES PROCESSUS DE FABRICATION DE SEMI–CONDUCTEURS

N° de brevet: WO0225708 (A2)
Date de publication: 2002-03-28
Inventeur(s): LEVY ADY;BROWN KYLE A;SMEDT RODNEY C;NIKOONAHAD MEHRDAD;BULTMAN GARY;WACK DAN;FIELDEN JOHN;
Demandeur(s): KLA TENCOR INC [US];
Classification: G01N21/21;G01N21/47;G01N21/63;G01N21/64;G01N21/95;G03F7/20;H01L21/66;G01N21/55;H01J37/317;H01L21/02;H01L21/265;
N° de demande: WO2001US42251 20010920 
Numéro(s) de priorité: US20000234323P 20000920 
L'invention concerne une chambre (35) de traitement destinée à traiter un substrat (30) et à surveiller le traitement effectué sur le substrat (30), comprenant un support (45), une entrée de gaz, un activateur de gaz, une évacuation (85), et une paroi (38) pourvue d'une cavité (145) dont la dimension permet de réduire le dépôt des résidus de traitement. Un système (35) de surveillance de traitement peut être utilisé pour surveiller un traitement mis en oeuvre sur le substrat (30) dans la chambre (25) de traitement à travers la cavité (145) située dans la paroi (38).

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