Méthode et appareil pour comparer un échantillon avec une référence en utilisant un diagramme étoilé
| N° de brevet: |
EP0753283 (A1) |
| Date de publication: |
1997-01-15 |
| Inventeur(s): |
LOTITO CHRISTIAN [FR];ANTOINE MATHIEU [FR];MAYOBRE GUILLERMO [FR]; |
| Demandeur(s): |
HEWLETT PACKARD CO [US]; |
| Classification: |
A61B5/0205;G01D7/06; |
| N° de demande: |
EP19950111026 19950714 |
| Numéro(s) de priorité: |
EP19950111026 19950714 |
Un affichage de type diagramme en étoile est utilisé pour comparer les valeurs de paramètres mesurés d'un échantillon à déterminer avec les valeurs de référence de ces paramètres. Les valeurs de référence sont déduites de mesures effectuées sur un groupe d'échantillons de référence fixé. Les valeurs de référence déduites sont représentées dans le diagramme en étoile par des valeurs de référence prédéterminées qui définissent ensemble, par exemple, un cercle. Les valeurs de paramètres mesurés de l'échantillon à déterminer sont gradués avant l'affichage en fonction d'un facteur d'échelle respectivement calculé pour chaque paramètre à l'aide du rapport entre les valeurs prédéterminées et les valeurs de référence déduites pour le paramètre concerné.
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