Pour corriger les données spectrales mesurées de n échantillons relatives aux données qui sont dues au processus de mesure lui-même, qui sont dues par exemple aux variations de la ligne de base spectrale et/ou à la vapeur d'eau et au dioxyde de carbone présents dans l'atmosphère du spectromètre utilisé pour effectuer les mesures du spectre, les données spectrales étant quantifiées à f fréquences discrètes pour produire une matrice X (de dimensions f par n) de données d'étalonnage, la matrice X est orthogonalisée par rapport à une matrice de correction Um de dimensions f par m comprenant m spectres de correction quantifiés aux f fréquences discrètes, ce qui a pour effet de simuler les données provenant du processus de mesure lui-même.Le procédé de correction est de préférence intégré dans un procédé d'estimation de données inconnues de propriétés et/ou de composition d'un échantillon considéré dans lequel les n échantillons sont des échantillons d'étalonnage et un modèle prédictif est élaboré pour mettre en relation réciproque les données de composition et de propriété connues des échantillons d'étalonnage avec leurs données spectrales corrigées au niveau des données qui sont dues au processus de mesure lui-même.Ensuite, les données inconnues de propriétés et/ou de composition de l'échantillon considéré sont estimées à partir du modèle prédictif sur la base de son spectre mesuré.